BW-4022C
半導(dǎo)體綜合測試系統(tǒng)
BW-4022C半導(dǎo)體綜合測試系統(tǒng)可同時針對:
【光耦】
適用于〖三極管管型光耦/可控硅光耦/繼電器光耦〗進行測試。
【二極管】
〖Diode /穩(wěn)壓Diode/ZD/SBC/TVS/整流橋堆〗進行測試。
【壓敏電阻】
〖Kelvin /Vrrm /Vdrm /Irrm /Idrm /△Vr〗進行測試。
【鋰亞電池】
〖Kelvin/電池空載電壓(Vbt)/負載電壓(Vbt_load )  /測試電流(0-10A 恒流 )/負載電壓變化值(▲Vbt_load)/電池內(nèi)阻(Vbt Res)  測試。
【晶振】
〖震蕩頻率(Freq_osc )/諧振電阻(Ri)/頻率精度(Freq_ppm)/測試頻率范圍(10kHz~10MHz)等測試。
【其他測試功能可定制拓展】
BW-4022C半導(dǎo)體綜合測試系統(tǒng)是針對于半導(dǎo)體器件開發(fā)專用測試的系統(tǒng),經(jīng)我公司產(chǎn)品升級與開發(fā),目前亦可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數(shù)測試,性能、精度、測試范圍均滿足客戶測試需求,可用于客戶端來料檢驗、研發(fā)分析、 產(chǎn)品選型等重要檢測設(shè)備之一。
BW-4022C 半導(dǎo)體綜合測試系統(tǒng)采用大規(guī)模 32 位 ARM&MCU 設(shè)計, PC 中文操作界面,程控軟件基于 Lab VIEW 平臺, 填充調(diào)用式菜單操作界面,測試界面簡潔 靈活、人機界面友好。配合開爾文綜合集成測試插座,根據(jù)不同器件更換測試座配合,系統(tǒng)可適配設(shè)置完成對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種元件的靜態(tài)參數(shù)測試。
該測試系統(tǒng)主要由測試主機和程控電腦及外部測試夾具三部分組成,并接受客戶端MES系統(tǒng)進行測試指令:方案選取/開始/暫停/停止/數(shù)據(jù)上傳等操作執(zhí)行,并可將測試數(shù)據(jù)上傳至MES系統(tǒng)由客戶端處理。
一、 設(shè)備規(guī)格與環(huán)境要求
物理規(guī)格
主機尺寸:深 660*寬 430*高 210(mm) 臺式
主機重量:<25kg
產(chǎn)品色系:白色系
工況環(huán)境
主機功耗:<300W
海拔高度:海拔不超過 1500m;
環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);
相對濕度: 20%RH~75%RH (無凝露,濕球溫度計溫度 45℃以下);
大氣壓力:86Kpa~106Kpa;
防護條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等;
供電要求
電源配置:AC220V±10%、50Hz±1Hz;
工作時間:連續(xù);
二、測試種類與技術(shù)指標
1、光耦測試:
· 三極管管型光耦
· 可控硅光耦
· 繼電器光耦
2、二極管類測試
· 二極管類:二極管
3、壓敏電阻測試
測試參數(shù)  | 符號  | 量程  | 測試范圍  | 測試條件  | 測量精度  | 
4、鋰亞電池測試
· Kelvin(0~150mV)
· 電池空載電壓(Vbt)  0-100V  +-0.2%
· 負載電壓(Vbt_load )   0-100V  +-0.5%  測試電流(0-10A 恒流 )
· 負載電壓變化值(▲Vbt_load)0-10v +-5% 測試電流(0-10A 恒流 )
· 電池內(nèi)阻(Vbt Res)  0-10v +-5%  測試電流(0-10A 脈沖 )
5、晶振測試
· 震蕩頻率(Freq_osc )
· 諧振電阻(Ri)
· 頻率精度(Freq_ppm)
· 測試頻率范圍(10kHz~10MHz)
產(chǎn)品詳細參數(shù)請向廠家詢問索??!